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發(fā)布時(shí)間:2017/2/7
點(diǎn)擊次數(shù):408
涂鍍層測(cè)厚儀,測(cè)厚儀 型號(hào): DP-LYT-2008
、概述
本儀器采用磁性測(cè)厚方法,可無(wú)損傷檢測(cè)磁性金屬基鐵(如:鐵、鋼、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆層的厚度(如:鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等)。本儀器廣泛地應(yīng)用于業(yè)、金屬業(yè)、化業(yè)、商檢等檢測(cè)域。是材料保護(hù)專業(yè)的儀器。
1)本儀器符合以下標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 4956-1985 磁性金屬基體上非磁性覆層厚度的測(cè)量(磁性方法)
2)特點(diǎn)
便攜,手掌大小
采用速的DSP芯片,具有快速的測(cè)量能力
人性化,簡(jiǎn)單操作。
兩種校準(zhǔn)方式:零點(diǎn)校準(zhǔn)和二點(diǎn)校準(zhǔn)
寬角度LCD液晶顯示
公制和英制單位轉(zhuǎn)換
具有電源欠電壓提示
操作過(guò)程有蜂鳴聲提示
具有自動(dòng)關(guān)機(jī)能
3)測(cè)量原理
磁性法
當(dāng)測(cè)頭與覆層接觸時(shí),測(cè)頭與磁性金屬基體構(gòu)成閉合磁路,由于非磁性覆層的存在,使磁路磁阻發(fā)生變化,通過(guò)測(cè)量其變化量,可測(cè)得其覆層的厚度。
二、參數(shù)
● 測(cè)量范圍:0-1200um
● 作電源:兩節(jié)五號(hào)電池
● 分辨率:0.1um/1um(100um以下為0.1um)
● 測(cè)量度誤差:零點(diǎn)校準(zhǔn) ±(1.5+3%H);二點(diǎn)校準(zhǔn)±【(1%~3%H)】H+1.5
● 公英制轉(zhuǎn)換:um/mil轉(zhuǎn)換
● 環(huán)境溫度:-10-40℃
● 相對(duì)濕度:≤85%
● zui小基體:10*10mm
● zui小曲率:凸5mm;凹5mm
● zui薄基體:0.4mm
● 重量:99克(含電池)
● 尺寸:102mm*66mm*24mm
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