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產(chǎn)品中心專用儀器儀表DP-SZT-2000數(shù)字式四探針測試儀/四探針測試儀/數(shù)字式四探針檢測儀
數(shù)字式四探針測試儀/四探針測試儀/數(shù)字式四探針檢測儀
產(chǎn)品簡介
product
產(chǎn)品分類數(shù)字式四探針測試儀/四探針測試儀/數(shù)字式四探針檢測儀 型號：DP-SZT-2000
DP-SZT-2000型數(shù)字式四探針測試儀是根據(jù)四探針測試原理研究成的多用途的綜合測量裝置，它可以測量棒狀、塊狀
半導(dǎo)體材料的電阻率和半導(dǎo)體擴(kuò)散層的薄層電阻行測量，可以從10-6--105Ω—cm量程范圍檢測硅的片狀、棒狀材料的電阻、薄層電阻，是硅材料質(zhì)量監(jiān)測的需儀器。
儀器為臺式結(jié)構(gòu)，分為電氣箱、測試架兩大分，用戶可以根據(jù)測試需要安放在般作臺或者作臺上，測試架由探頭及壓力傳動機(jī)構(gòu)、樣品架組成，耐磨和使用壽命長的特點(diǎn)。探頭內(nèi)設(shè)有彈簧壓力裝置，壓力從0—2Kg連續(xù)可調(diào)，測試架設(shè)有手動和電動兩種裝置供用戶選購。
儀器電氣箱主要由靈敏的直流數(shù)字電壓表和穩(wěn)定的恒流源組成，測量結(jié)果由數(shù)字直接顯示，儀器有自校量程，可以方便地對儀器的電氣性能行校驗(yàn)。
儀器具有測量度、靈敏度、穩(wěn)定性好、測量范圍廣、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等特點(diǎn)，儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、器件廠、科學(xué)研究、等院校，對半導(dǎo)體材料的電阻性能測試及藝檢測。
儀器主要標(biāo)：
1． 范圍：電阻率10-4—103Ω—cm，可擴(kuò)展至105Ω—cm，分辯率為10-6Ω—cm
方塊電阻10-3—103Ω /□
電阻10-6—105Ω
2． 可測半導(dǎo)體尺寸：直徑Φ15—150mm
3． 測量方式：軸向、斷面均可（手動測試架）
4． 數(shù)字電壓表（1）量程0.2mV、2mV、20mV、200mV、2V
（2）測量誤差 0.2mV檔±（0.3%讀數(shù)+8字）
2 mV檔以上±（0.3%讀數(shù)+2字）
（3）輸入阻抗0.2mV、2mV擋105Ω
20mV檔以上>108Ω
（4）顯示3 1/2位數(shù)字顯示，0—1999
具有性和過載自動顯示，小數(shù)點(diǎn)、單位自動顯示
5． 恒流源：（1）電流輸出：直流電流0—100mA連續(xù)可調(diào)，由交流電源供給
（2）量程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA 五檔
（3）電流誤差：±（0.3%讀數(shù)+2字）
6．四探針測試探頭 （1）探頭間距：1mm （2）探針機(jī)械游率：±0.3%
（3） 探針：Φ0.5mm （4）壓力：可調(diào)
7. 測試架：
（1）手動測試架：探頭上升及下降由手動操作，可以用作軸向和斷面的單晶棒和硅片測試。
（2）電動測試架：探頭的上升和下降由電動操作，設(shè)有自動控制器控制，探頭上升時間1S—99S可調(diào)，探頭下降時間1S—99S可調(diào)，壓力恒定可調(diào)（由砝碼來設(shè)定）同時設(shè)有腳踏控制裝置由腳踏開關(guān)控制探頭上下運(yùn)動。
8.電流：220V±10% 50HZ或60HZ：率消耗<35W
9． 外形尺寸：電氣箱130×110×400mm
2.
片劑硬度測試儀/硬度測試儀//硬度儀 型號：DPYD-1型
| 片劑硬度測試儀用 途 |
| DP系列片劑硬度測試儀，是測試片劑硬度值的檢測儀器。該產(chǎn)品經(jīng)家法定質(zhì)量監(jiān)督測試，其主要標(biāo)達(dá)到或*類儀器的水平。 片劑硬度測試儀主要特點(diǎn)： ·DP-1型手動片劑硬度測試儀采用單片微型計(jì)算機(jī)行控制，度壓力傳感器，數(shù)字顯示硬度值，單位千克 ·可連續(xù)測量片劑的硬度值，人手動加壓，自動顯示，自動鎖存，自動復(fù)位，自動循環(huán)測試 ·面板采用PC塑料面膜，無按鍵，數(shù)碼管顯示 ·主要元器件及零件采用口或產(chǎn)優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品 ·結(jié)構(gòu)簡潔，美觀大方，性能優(yōu)良，操作簡便，作可靠 |
| 片劑硬度測試儀 術(shù) 標(biāo) | ||||||||
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